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電話：400-893-3686
傳真：010-87311207
郵箱：sales@tycorady.com
網址：www.xznhc.com
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美國KLA - TENCOR光學表面分析儀
KLA-Tencor公司為**美資半導體（芯片）設備供貨商，公司總部在美國硅谷，擁有 6000 多名員工，自1976年成立以來不斷致力于產品研究與發展，客戶提供更*善更人性化服務，并協助半導體（芯片）廠商創造高品質、**率的產品，目前分公司遍布美洲、歐洲、亞洲等國家。KLA-Tencor 一直致力于幫助其客戶降低運營成本并增加收益，并已經成為其堅定不移的長期合作伙伴。
KLA-Tencor主要產品:
CS20光學表面分析儀
WaferSight PWG 已圖案晶圓幾何形狀測量系統
LMS IPRO6 光罩圖案位置測量系統
K-T Analyzer 9.0 先進數據分析系統
2920 系列寬波等離子圖案晶圓缺陷檢測系統
Puma 9850 激光掃描圖案晶圓缺陷檢測系統
Surfscan SP5 無圖案晶圓缺陷
Teron SL650 光罩檢測系統
處理450mm硅片的Surfscan SP3系統
KLA-Tencor主要產品:
CS20光學表面分析儀
WaferSight PWG 已圖案晶圓幾何形狀測量系統
LMS IPRO6 光罩圖案位置測量系統
K-T Analyzer 9.0 先進數據分析系統
2920 系列寬波等離子圖案晶圓缺陷檢測系統
Puma 9850 激光掃描圖案晶圓缺陷檢測系統
Surfscan SP5 無圖案晶圓缺陷
Teron SL650 光罩檢測系統
處理450mm硅片的Surfscan SP3系統
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